產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
儀器儀表
ORC日本
ARV-O3MG中村到貨:日本ORC臭氧發(fā)生器
產(chǎn)品型號(hào):ARV-O3MG
更新時(shí)間:2025-04-24
廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
訪問(wèn)量:175
13548726171
中村到貨:日本ORC臭氧發(fā)生器ARV-O3MG
中村到貨:日本ORC臭氧發(fā)生器ARV-O3MG
兼容多種應(yīng)用:可兼容 WL-CSP、IGBT、CIS 等 6/8/12 英寸光刻技術(shù),適用于多種半導(dǎo)體制造場(chǎng)景。
寬頻譜光刻:具備寬帶曝光功能,可根據(jù)配方自動(dòng)切換 GHI 線、GH 線、I 線,滿(mǎn)足不同光刻工藝對(duì)波長(zhǎng)的需求。
可變數(shù)值孔徑:搭載可變 NA 功能,數(shù)值孔徑可在 0.16 和 0.1 之間變化,能夠根據(jù)不同的光刻精度要求進(jìn)行調(diào)整。
多場(chǎng)拼接設(shè)計(jì):最多支持 8 場(chǎng)光罩設(shè)計(jì)格式,可實(shí)現(xiàn)較大面積的光刻圖案制作。
光學(xué)系統(tǒng)保護(hù):能保護(hù)光學(xué)元件免受周?chē)h(huán)境中的阻滯氣體和化學(xué)物質(zhì)的影響,提高設(shè)備的穩(wěn)定性和使用壽命。
主要參數(shù):晶圓尺寸為 6/8/12 英寸,分辨率為 2.0μmL/s(2.0μm 抗蝕劑厚度),減速比為 1:1,字段大小為 52 毫米 ×33 毫米,光罩尺寸為 6 寸,疊加精度≦0.5 微米(|Ave|+3σ)。
工作原理:利用特定光源發(fā)出的光,通過(guò)具有圖形的光罩對(duì)涂有光刻膠的硅片進(jìn)行曝光,光刻膠見(jiàn)光后發(fā)生性質(zhì)變化,從而將光罩上的圖形復(fù)印到硅片上,使硅片具備電子線路圖的功能。
核心系統(tǒng):光源系統(tǒng):是光刻機(jī)的核心之一,其波長(zhǎng)直接決定光刻精度。早期采用汞燈,如 g - line(436nm)和 i - line(365nm),可滿(mǎn)足 800 - 250nm 制程芯片生產(chǎn)。之后準(zhǔn)分子激光光源興起,如第三代光刻機(jī)用 248nm 的 KrF 準(zhǔn)分子激光,可用于 180 - 130nm 工藝節(jié)點(diǎn);第四代用 193nm 的 ArF 準(zhǔn)分子激光,配合浸沒(méi)式技術(shù)、雙圖形技術(shù)等,可應(yīng)用于 10nm 節(jié)點(diǎn)量產(chǎn)。目前的是采用 13.5nm 極紫外光(EUV)的第五代光刻機(jī)。
光刻物鏡系統(tǒng):保證光源精準(zhǔn)成像在晶圓表面的關(guān)鍵組件。隨著技術(shù)發(fā)展,投影物鏡結(jié)構(gòu)更復(fù)雜、尺寸增大,工作波長(zhǎng)多處于紫外波段,如 KrF(248nm)、ArF(193nm)和 EUV(13.5nm)。
雙工作臺(tái)系統(tǒng):由測(cè)量臺(tái)與曝光臺(tái)組成,一個(gè)工作臺(tái)曝光時(shí),另一個(gè)可進(jìn)行晶圓的裝載、卸載和對(duì)準(zhǔn)等操作,提高了光刻機(jī)的產(chǎn)能。
關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì)產(chǎn)品分類(lèi)
儀器儀表 光學(xué)儀器 五金機(jī)電 機(jī)械備品新聞文章
新聞中心 技術(shù)文章聯(lián)系我們
聯(lián)系方式 在線留言 地圖導(dǎo)航13548726171
(全國(guó)服務(wù)熱線)湖南省長(zhǎng)沙市岳麓區(qū)學(xué)士街道學(xué)豐路1008號(hào)迪亞溪谷山莊B310棟104號(hào)
nakamura@csmro.com
添加微信
Copyright © 2025湖南中村貿(mào)易有限公司 All Rights Reserved 工信部備案號(hào):湘ICP備2024066514號(hào)-5
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml